為0到1之間的常數(shù)，F(xiàn)是法拉第常數(shù),R是通用氣體常數(shù)，Tafel方程有時也以緊湊形式編寫，在哪里，取等式兩邊的對數(shù)，我們有，51是線性方程，因此，參數(shù)汕也稱為塔菲爾斜率，當(dāng)不能忽略逆反應(yīng)時，可以使用Butler-Volmer方程對反應(yīng)動力學(xué)建模。
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凌科維修各種儀器，30+位維修工程師，經(jīng)驗(yàn)豐富，維修后可測試。主要維修品牌有：美國brookfield博勒飛、博勒飛、德國艾卡/IKA、艾默生、英國BS、HAAKE、Hydramotin、TRUSCO、koehler、德杜儀器、美國CSC、恒平、日本馬康、MALCOM、安東帕、德國IKA/艾卡 、ChemTron、哈克、Fungilab、紡吉萊博、中旺、愛拓、斯派超等儀器都可以維修
印刷儀器維修和組件組成的電子組件進(jìn)行建模，從這些分析中可以獲得固有頻率和模態(tài)形狀，研究了電子盒的設(shè)計(jì)和安裝效果，觀察到箱體剛性在振動傳遞到PCB方面的重要性，檢查了電子盒設(shè)計(jì)中蓋子的影響，并介紹了蓋子安裝對系統(tǒng)動力學(xué)的影響。 但并非，成功的產(chǎn)品取決于許多領(lǐng)域的專家之間的密切合作，他們的共同目標(biāo)是以適當(dāng)?shù)膬r格生產(chǎn)具有適當(dāng)質(zhì)量的產(chǎn)品，通用電路設(shè)計(jì)超出了本書的范圍，但是，我們將討論與技術(shù)選擇，零件，PWB布局以及PCB/混合電路級生產(chǎn)有關(guān)的設(shè)計(jì)方面。
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1. 我的電腦無法連接到粘度計(jì)的 USB
這是一個常見的障礙，但需要進(jìn)行簡單的調(diào)整！該問題的診斷是您的計(jì)算機(jī)無法正常檢測到USB驅(qū)動，因此您的儀器無法連接到計(jì)算機(jī)和軟件。要更新 USB 驅(qū)動程序，請下載以下鏈接中的更新。
路線：
1) 到達(dá)站點(diǎn)后，向下滾動到VCP 驅(qū)動程序部分。
2) 在“處理器架構(gòu)”表中，單擊 Window 2.12.28.3 注釋部分中的“安裝可執(zhí)行文件”。按照更新說明進(jìn)行操作。下載以下文件，解壓并以管理員權(quán)限運(yùn)行。這應(yīng)該有助于在您重新啟動軟件時解決問題。
2. 清潔 VROC 芯片時，我沒有看到預(yù)期的結(jié)果
考慮一下您的樣品和清潔工作。如果您的芯片讀取的粘度略高于清潔溶液應(yīng)讀取的粘度，這意味著它可能不是適合您的樣品的清潔溶液，或者芯片內(nèi)部有樣品積聚。您應(yīng)該先檢查正在運(yùn)行的解決方案。如果您的樣品有 PBS、緩沖液或異丙醇等常用溶劑，建議檢查并嘗試在清潔后運(yùn)行這些溶劑。
出于存儲目的，建議終達(dá)成可以長期存儲芯片的清潔協(xié)議。例如，儲存在糖溶液中并不理想，因?yàn)樘侨芤簳掣皆诹鲃油ǖ郎稀?/strong>
一般提示，水不是一種好的清潔劑，原因如下：
高表面張力 – 即使是水溶液，它也不是的清潔劑
氣泡被困在流道中的可能性——由于其高表面張力而導(dǎo)致的另一個結(jié)果
電子盒的設(shè)計(jì)有許多重要的問題，這些問題是由振動載荷引起的，例如盒的安裝和，連接器在盒上的固定，盒內(nèi)PCB的固定以及蓋的安裝，在這些問題中，本文研究了連接器，蓋板和PCB，并取得了重要的成果，盡管連接器似乎牢固地固定在PCB上。 可靠性問題將是受損/減小的電介質(zhì)間距，該間距將容易受到導(dǎo)電陽絲(CAF)型失效模式的影響，除非經(jīng)過減小的接觸面積與對目標(biāo)焊盤的粘附力受到損害的情況相結(jié)合，否則微孔配準(zhǔn)錯誤的事實(shí)并不一定意味著減少了失效的熱循環(huán)。 結(jié)果，在90%的相對RH(粉塵中混合鹽的CRH高于RH)下，吸收了更多的水分以形成更厚的水膜，105同時，灰塵和腐蝕產(chǎn)物中發(fā)現(xiàn)的某些無機(jī)化合物(如CuCl2和NaCl)的溶解度隨溫度升高而增加，溶解度測量物質(zhì)溶解在固定量的溶劑中形成飽和溶液的能力。
3. 我的 rsquared 值超出了 0.996 - 1.000 范圍
您的樣品可能不均勻，注射器中的樣品中可能存在氣泡，或者由于水等高表面張力而在注射器內(nèi)形成氣泡。請參閱如何從樣品中去除氣泡或通過回載正確加載樣品 來解決此錯誤
4. 我的樣品無法通過我的芯片/我收到 MEMS 傳感器錯誤
您的樣品有顆粒嗎？仔細(xì)檢查顆粒尺寸并確保其適用于您的芯片。
粘度計(jì)的預(yù)防性維護(hù)分為兩部分。部分是將傳感器從生產(chǎn)線上拆下，將其安裝在支架上并進(jìn)行清潔。在此期間，還應(yīng)拆下并清潔傳感活塞。這是一個簡單的七步過程，只需幾分鐘即可完成。
第二個預(yù)防性維護(hù)過程是使用經(jīng)過認(rèn)證的校準(zhǔn)液檢查粘度計(jì)系統(tǒng)的準(zhǔn)確性。這驗(yàn)證了粘度測量的準(zhǔn)確性和可靠性。這是一個簡單的三步過程，也可以快速執(zhí)行。
現(xiàn)場退貨產(chǎn)品表現(xiàn)出與實(shí)驗(yàn)室測試相同的失效機(jī)理，這進(jìn)一步證實(shí)了實(shí)驗(yàn)結(jié)果的適用性，本論文的結(jié)構(gòu)如下，第2章回顧了灰塵的背景，第三章討論了與粉塵有關(guān)的失效機(jī)理，測試方法和失效時間模型，第4章回顧了阻抗測量和等效電路建模。 在浸泡試驗(yàn)的前8個小時中，讀數(shù)之間的間隔要比浸泡試驗(yàn)后期的間隔短，因?yàn)轭A(yù)計(jì)在早期階段體重會更快地變化，40灰塵135灰塵2(%)30灰塵325灰塵4增，，益PCB20重量151050081624324048時間(小時)不同樣品的濕透。 然后進(jìn)行七個潮濕的加熱循環(huán)，如9所示，自然灰塵粒子以均密度大約為25分布在測試紙上(Au/Ni/Cu)，3200/cm2通過39個定制的集塵室實(shí)現(xiàn)，灰塵室的簡化如10所示，灰塵顆粒被送入灰塵填充器，串聯(lián)連接的電風(fēng)扇通過氣流管道將顆粒吹入粉塵混合室。 作為整個電路和機(jī)械驅(qū)動的量度，如果時間間隔超過值，則將檢查系統(tǒng)以識別問題組件，電路的成功功能測試假定電路可以返回到服務(wù)，即使可能存在降級，這是發(fā)電廠中常用的方法，為了減少使退化的儀器維修恢復(fù)使用的可能性。
檢查120VAC電源或變壓器輸出正確的電壓，并且絲未燒斷。這通常用于液壓電磁線圈等。查找位于問題區(qū)域內(nèi)的電池或傳感器和開關(guān)的區(qū)域。例如工具更換器，托盤更換器或刀庫區(qū)域。仔細(xì)查看電氣圖，查找可能存在的故障或設(shè)備故障。檢查每個輸入LED在PLC或內(nèi)部控制診斷程序上是否點(diǎn)亮。手動進(jìn)行每個開關(guān)。將機(jī)器置于急停狀態(tài)，以免發(fā)生意外動作。但仍要小心，因?yàn)槟承┨葑拥奈淖植⒉话踩�。請記住，代理通常無法打開狀態(tài)，因此請確保在不應(yīng)該處于正常狀態(tài)時也不要打開它們。進(jìn)行輸入時，請檢查機(jī)器或PLC診斷程序上的輸入并中斷輸入。如果所有這些都正常工作，請繼續(xù)檢查以下輸出。否則，請用電表測試電源是否已重新輸入到PLC輸入中。
案例研究：繪制烤箱中的溫度梯度為了說明高溫應(yīng)用中的兩種合適器件，AD8229和ADXL206（雙軸加速度計(jì)）在便攜式且安全使用的高溫環(huán)境下工作。該演示利用一個帶旋轉(zhuǎn)組件的小型電烤箱，其上裝有高溫PCB并連續(xù)運(yùn)行�？鞠鋬�(nèi)部的加熱元件位于頂部附。這種布置在烤箱的內(nèi)部產(chǎn)生了較大的溫度梯度。旋轉(zhuǎn)有助于進(jìn)行可以將溫度和位置測量結(jié)合起來的實(shí)驗(yàn)。AD8229調(diào)節(jié)來自K型熱電偶的信號，該熱電偶在烤箱內(nèi)部不斷旋轉(zhuǎn)。熱電偶探頭從PCB伸出大約6英寸-更好地測量烤箱溫度變化。同時，ADXL206測量旋轉(zhuǎn)角度。三個信號（溫度梯度，x加速度和y加速度）為通過額定用于高溫操作的滑環(huán)（旋轉(zhuǎn)連接器）發(fā)送的滑環(huán)保持與防旋轉(zhuǎn)線束的連接。
您還將獲得工程幫助和客戶互動-與多年合作伙伴一起工作帶來的舒適感，對于許多項(xiàng)目而言，選擇電子合同制造商的重要因素之一是其處理知識產(chǎn)權(quán)(IP)的方式，承包商執(zhí)行的制造廠安全程序(包括物理程序和數(shù)字安全程序)充分說明了公司對客戶成功的承諾。 這些類型的板被稱為1層印刷儀器維修或1層PCB，今天制造的常見的PCB是包含兩層的PCB，，，也就是說，您可以在儀器維修的兩個表面上找到互連，但是，根據(jù)設(shè)計(jì)的物理復(fù)雜性(PCB布局)，儀器維修可以制成8層或更多層。 EPRI觀點(diǎn)隨著核電行業(yè)面臨日益嚴(yán)重的老化和過時問題，需要關(guān)注的一個領(lǐng)域是L&C系統(tǒng)中使用的電子板和組件的老化，L&C系統(tǒng)的現(xiàn)有功能測試方法通常會在電路故障發(fā)生后對其進(jìn)行檢測，而新的監(jiān)視技術(shù)可在電路仍處于運(yùn)行狀態(tài)時提供故障指示。 此外，為了評估PBGA組件抵抗振動疲勞的可靠性，進(jìn)行了具有四個PBGA模塊的PBGA組件的等幅振動疲勞測試(圍繞共振的正弦掃描測試)，并估算了PBGA組件的均失效時間(MTTF)，通過使用掃描電子顯微鏡(SEM)觀察到PBGA組件容易受到振動。
雷克斯硬度計(jì)顯示屏不亮維修檔口因此與1級數(shù)值方法的這種相關(guān)性證明了其準(zhǔn)確性。圖5.1級，2級，3級和4級分析，F(xiàn)EA以及1級和4級數(shù)值模型的瞬態(tài)熱結(jié)果。結(jié)溫與時間的對數(shù)-對數(shù)圖。圖7a和7b比較了3級和4級數(shù)值結(jié)果與FEA解決方案。顯然，與3階段數(shù)值或4階段分析結(jié)果相比，4階段方法提供的結(jié)溫計(jì)算與FEA結(jié)果更好地吻合。數(shù)值方法的蓋子溫度計(jì)算與FEA結(jié)果非常吻合。計(jì)算得出的散熱器基本溫度略差一些�？梢酝ㄟ^將散熱片底座分為上半部分和下半部分來改進(jìn)該協(xié)議，就像使用模具那樣。圖7a和7b。與等效數(shù)值RC模型相比，F(xiàn)EA瞬態(tài)分析的結(jié)果。不同位置的溫度隨時間變化：a）3級數(shù)值模型。b）4級。變功率數(shù)值四階段RC模型通過在表3的ColC中選擇的時間步長手動更改功率電。 kjbaeedfwerfws
