奧林巴斯超聲波探傷儀雙晶探頭

介紹

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個通�？缮�成縱波且與被測樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，

不僅具有超級防磨效果，可以延長探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢

? 專利WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

? 所有這類探頭都可用于檢測面粗糙的工業(yè)部件。

? 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。

? 可用于檢測多種材料。

應(yīng)用

? 垂直聲束缺陷探測和厚度測量。

? 分層缺陷的探測和定量。

? 材料特性評價和聲速測量。

? 檢測平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。

? 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

指尖接觸式

? 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。

? 303不銹鋼外殼。

? 薄外形的特點(diǎn)便于檢測難于接觸到的表面。

? 根據(jù)客戶的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號為CAP8。

? 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個縱波晶片（一個用作發(fā)送器，另一個用作接收器），兩個晶片裝于同一個外殼中，但中間有一

層隔音屏障。每個晶片都稍微向另一個晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢

測嚴(yán)重腐蝕的工件時一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。

雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發(fā)射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。

要了解有關(guān)用于MG2和37系列測厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請咨詢我們。

優(yōu)勢

? 改進(jìn)了近表面的分辨率。

? 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。

? 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。

? 減少了粗晶�；蛞咨⑸洳牧现械闹苯臃聪蛏⑸湓胍簟�

? 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。

? 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

應(yīng)用

? 剩余壁厚測量。

? 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。

? 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測。

? 探測鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。

? 探測螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

? 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍尖端雙晶）。

雙晶探頭在同一個外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個晶片。一個晶片發(fā)射縱波，另一個晶片作為接收器接收聲波。

優(yōu)勢

應(yīng)用

? 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的*高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的*高溫度為175°C

（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為*多10秒鐘接觸，然后

進(jìn)行*少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍尖端雙晶）。

? 這種探頭的淺屋頂角為探測鋼材料中深度為19毫米（0.75英寸）或更深位置的較深缺陷、底面及其它射體提供了更大的

靈敏度。

? 1.8米（6英尺）帶BNC連接器的高強(qiáng)度柔韌的密封線纜。