美國泛美超聲波探傷儀測(cè)頭

介紹

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225

MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決于材料、

探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分

辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢(shì)

? 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了的時(shí)間分辨率。

? 短波長可獲得極強(qiáng)的缺陷分辨率能力。

? 直徑極小的聲束也可以聚焦。

? 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

? 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。

? 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

? 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。

? 可對(duì)陶瓷及工程材料進(jìn)行檢測(cè)。

? 可對(duì)材料進(jìn)行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式

? 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí)，利用永久熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。

? 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

? 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。

雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。

優(yōu)勢(shì)

? 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

? 1.8米（6英尺）帶BNC連接器的高強(qiáng)度柔韌的密封線纜。