粗糙度儀Perthometer S2

特征:
•  依照現(xiàn)行標準可實現(xiàn)粗糙度和波度測量
   (DIN EN ISO 3274, 例如: 帶通濾波器)
•  重量輕 (不包括內(nèi)置充電電池)
•  高分辨率的圖形顯示, 可清晰顯示測量結(jié)果和輪廓
• 基于自動測量原理和多測量元素, 使得操作更簡單
• 通過內(nèi)置熱敏打印機, 快速打印測量記錄
• PCMCIA 存儲卡可存儲測量程序、測量結(jié)果和輪廓
• S2Prog 擴展程序, 可簡單地建立測量程序

•  用途廣泛和簡易應(yīng)用的軟件功能, 例如:
-  自動設(shè)置標準濾波器和掃瞄長度功能
-  校準和維護周期監(jiān)察功能
-  弧線濾除功能
-  動態(tài)和靜態(tài)校準程序
-  多達 41 種評定參數(shù), 按照 DIN EN ISO, JIS, ASME,
MOTIF, R, W, P 和 D 輪廓及特性曲線, 并可設(shè)定
MRC/ADC 不同比例縮放
-  濾波器和掃瞄長度可選
-  公差監(jiān)控, 以聲音和圖標提示
-  密碼保護功能, 防止錯誤的設(shè)置和修改
-  內(nèi)置統(tǒng)計功能
-  獨立功能按鍵
-  簡易呼出和打印測量記錄及各種功能
•  通過 PCMCIA 記憶于進行軟件升級
•  SPC 接口可實現(xiàn) S2 與生產(chǎn)程序連接
•  RS 232 接口可實現(xiàn)數(shù)據(jù)傳輸和遠程控制

Perthometer S2技術(shù)數(shù)據(jù)
測量原理   探針接觸測量法
測量范圍
范圍/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步長/垂直范圍
11,200 測量點/標準掃瞄長度
標準  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
輪廓類型  R, D, P, W (輪廓可例轉(zhuǎn)) 
垂直方向縮放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向縮放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自動
用于評定長度輪廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
圖形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
掃瞄長度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
掃瞄長度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊掃瞄長度 0.56 至 120.00 mm, 可調(diào)
(.022 in 至 4.724 in)