.jpg "CT8683線材測(cè)試儀|新機(jī)益和CT-8683\/CT8685")
商鋪名稱(chēng)：東莞市塘廈佳華電子儀器經(jīng)營(yíng)部
聯(lián)系人：冉另昌（先生）
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企業(yè)郵箱：2572238817@qq.com
聯(lián)系地址：東莞市塘廈鎮(zhèn)怡景花園
郵編：523712
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| 產(chǎn)品參數(shù) | |||
|---|---|---|---|
| CT8683線材測(cè)試儀|新機(jī)益和CT-8683/CT8685 品牌 | 益和 | ||
| 產(chǎn)品特性 | 線材測(cè)試機(jī) | ||
| 是否進(jìn)口 | 否 | ||
| 產(chǎn)地 | 臺(tái)灣 | ||
| 加工定制 | 否 | ||
| 測(cè)量范圍 | 1 | ||
| 測(cè)量精度 | 2 | ||
| 產(chǎn)品用途 | 3 | ||
| 可售賣(mài)地 | 全國(guó) | ||
| 型號(hào) | CT-8683 | ||
材機(jī)CT-8683線材綜合測(cè)試儀CT-8683F電測(cè)測(cè)試范圍與功能：.jpg)
項(xiàng)目 | 符號(hào) | 測(cè)量范圍 |
電阻測(cè)試 | R | 0.1Ω~1.0MΩ |
電容測(cè)試 | C | 10PF~1uF |
二極管測(cè)試 | D | 0.0V~7.0V |
導(dǎo)通測(cè)試 | COND | 0.1Ω~50.0Ω |
高壓（漏電流） | IL | 0.01mA~5mA |
絕緣電阻測(cè)試 | IR | 1MΩ~500MΩ |
斷/短路 | O/S | 2KΩ~50KΩ |
瞬間短斷路測(cè)試 | 2KΩ~50KΩ | |
瞬間導(dǎo)通測(cè)試 | 0.1Ω~50.0Ω | |
單邊測(cè)試 | ||
斷短路端點(diǎn)判斷 |
?.jpg)
上海線材機(jī)CT-8683線材綜合測(cè)試儀CT-8683F電測(cè)技術(shù)規(guī)格：
測(cè)試功能 | |
? 功能 | 可程式化連續(xù)測(cè)試 |
自動(dòng)找點(diǎn) | |
自我診斷 | |
自我校正歸零 | |
基本準(zhǔn)確度 | ±5 |
測(cè)試掃描模式 | 自動(dòng)/短路掃描可切換 |
測(cè)量速度 | 0.1Sec基本值 |
低電壓測(cè)量信號(hào) | |
額定輸出 | 5Vdc?±5準(zhǔn)確度 |
測(cè)試項(xiàng)目指標(biāo) | |
直流(交流)高壓絕緣測(cè)試 | 200～700Vdc/100～500Vac |
.jpg) | 50V Resolution，±5準(zhǔn)確度 |
顯示/聲音裝置 | 320x240解析度圖形液晶顯示 |
6位數(shù)數(shù)位顯示 | |
Pass/Fail LED紅綠指示燈/畫(huà)面顯示/聲響 | |
測(cè)量接點(diǎn) | 128獨(dú)立量測(cè)接點(diǎn) |
可選擇256/512接點(diǎn) | |
高壓校正正負(fù)端輸出 | |
自動(dòng)找點(diǎn)端子 | |
控制面板 | 系統(tǒng)/快速/編輯/功能 按鍵群組 |
接口 | RS-232通訊接口 |
打印接口 | |
遠(yuǎn)程控制接口 | |
存儲(chǔ)功能 | 內(nèi)建512KB SRAM |
zui多可存儲(chǔ)56組測(cè)試設(shè)定檔案 | |
內(nèi)建備份電池 | |
電源 | 220 VAC輸入±10?50Hz |
?
上海線材機(jī)CT-8683線材綜合測(cè)試儀CT-8683F電測(cè)其它附屬說(shuō)明：
配件 | 自動(dòng)找點(diǎn)探針 |
二合一64Pin牛角轉(zhuǎn)接頭 | |
電源線 | |
使用手冊(cè) | |
溫濕度 | 攝氏150C ~ 350C |
相對(duì)濕度RH≦75 | |
尺寸(寬x高x深) | 425x190x350mm |
重量 | 約14Kgs |
線材規(guī)格要求 | zui高1μF |
其它型號(hào)選購(gòu) | |
???HRC-8681FA | 增加至DC 700V, AC 500V |
???HRC-8683F | 增加至DC 1000V |
???HRC-8683FA | 增加至DC1000V, AC700V |
??? HRC-8685FA | 增加至DC1500V, AC1000V |
??? /C2 | 256測(cè)試點(diǎn) |
??? /C3 | 512測(cè)試點(diǎn) |
