Oxford CMI165手持式涂鍍層測(cè)厚儀

CMI165手持式涂鍍層測(cè)厚儀—特點(diǎn)

-- 可測(cè)試高溫的PCB銅箔
-- 顯示單位可為mils，μm或oz
-- 可用于銅箔的來(lái)料檢驗(yàn)
-- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試
-- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試
-- 配有SRP-T1，帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭
-- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試

硬件特性：
測(cè)試數(shù)據(jù)通過(guò)USB2.0高速傳輸，可保存為Excel格式文件，
儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)，
客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器，
測(cè)量模式：固定測(cè)量、連續(xù)測(cè)量、自動(dòng)測(cè)量模式，
儀器可以儲(chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果（測(cè)試日期時(shí)間可自行設(shè)定），
儀器使用普通AA電池供電。
手持式CMI165表面銅厚測(cè)量?jī)x特點(diǎn)：
可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔，減少試樣成本；
可在PCB鉆孔、剪裁、電鍍等工序前進(jìn)行相關(guān)銅箔來(lái)料檢驗(yàn)；
可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試；
可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試。
性能：
利用微電阻原理通過(guò)四針式探頭進(jìn)行銅厚測(cè)量，符合EN14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，
強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能，包括數(shù)據(jù)記錄、平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能，
數(shù)據(jù)顯示單位：mil、μm、oz，
操作界面：英文、簡(jiǎn)體中文，
儀器無(wú)需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片，可測(cè)量蝕刻后的線型銅箔厚度，線寬可低至204μm（8mils），
厚度測(cè)量范圍：
化學(xué)銅：0.25--12.7μm（0.01--0.5mils），
電鍍銅：2.0--254μm（0.1--10mils），
儀器再現(xiàn)性：0.08μm at 20μm（0.003 mils at 0.79 mils），
SRP-T1探針：可自行替換，更換后無(wú)需校準(zhǔn)即可使用；
具有照明功能，有助于線型銅箔檢測(cè)時(shí)準(zhǔn)確定位。

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