德國(guó)尼克斯QNix4200測(cè)厚儀使用說明書

產(chǎn)品特征：
QNix4200測(cè)厚儀，可以用來測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層，鍍層 
·只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
·體積小巧，操作方便
主要技術(shù)參數(shù)：
·測(cè)量范圍：磁性基體（Fe模式）:0-3000μm
·最小基體厚度：Fe:0.2mm
·精度：0-50um:≤±1μm，50-1000μm:≤±1.5%讀數(shù)，1000-3000μm≤±3%讀數(shù)
·最小接觸面：10×10mm
·最小曲率半徑：凸面：3mm，凹面：25mm
·電源：2節(jié)1.5V干電池
·外形尺寸：100×60×27mm，重量：110g 

所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。
一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，
確保準(zhǔn)確測(cè)量：
QNix4200德國(guó)尼克斯涂鍍層測(cè)厚儀無需校準(zhǔn)：
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：
使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無可比擬的優(yōu)越和提高。

篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>量博LAB GAGES 全自動(dòng)零件清潔度檢測(cè)系統(tǒng)；
==>>捷克吉爾-斯派克 GearSpect 齒輪嚙合儀、齒輪檢測(cè)中心；
==>>海克斯康三坐標(biāo)、ROMER絕對(duì)關(guān)節(jié)臂測(cè)量機(jī)；
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==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
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==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)EPK手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
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==>>美國(guó)雷泰Raynger紅外測(cè)溫儀；
==>>美國(guó)OGP多傳感影像測(cè)量?jī)x；