耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
產(chǎn)品價(jià)格：￥50（人民幣）
  • 規(guī)格：1/4”3/8”1/2”
  • 發(fā)貨地：上海
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    郵編：201410

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    商品詳情
      耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
      耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
      AV4151調(diào)制域分析儀精密時(shí)間間隔測(cè)量廣泛應(yīng)用于衛(wèi)星導(dǎo)航、雷達(dá)定位、激光測(cè)距、粒子物理實(shí)驗(yàn)、計(jì)量及測(cè)試等領(lǐng)域，隨著人們對(duì)定位測(cè)距精度、粒子質(zhì)量鑒別精度和時(shí)間計(jì)量精度的要求不斷提升，皮秒級(jí)時(shí)間分辨率的測(cè)試應(yīng)用越來越多。目前國(guó)外成熟產(chǎn)品的時(shí)間測(cè)量分辨率為2ps，標(biāo)準(zhǔn)方差為36ps左右，國(guó)內(nèi)中電科儀器儀表公司推出的AV4151調(diào)制域分析儀時(shí)間測(cè)量分辨率可達(dá)5ps，標(biāo)準(zhǔn)方差為86ps左右，綜合性能到達(dá)了先進(jìn)水平，能夠滿足目前絕大數(shù)情況對(duì)精密時(shí)間的測(cè)試需求。
      卡套接頭SS316和SS316L選材：
      主要區(qū)別316含碳量0.08%，316L 含碳量0.03%。碳受熱很容易形
      成碳鉻化合物析出，造成局部Cr含量下降，嚴(yán)重影響不銹鋼的耐腐蝕能力。
      需要焊接的產(chǎn)品材質(zhì)選用316L。
      通常情況下，316的強(qiáng)度會(huì)略高于316L的材料，所以一般卡套接頭采用316材質(zhì)。
      不銹鋼產(chǎn)品常用的其它材料
      特點(diǎn)：雙套圈結(jié)構(gòu)，連接緊密，幾乎無泄露。耐壓性能好，與管路接為一體。
      安裝非常方便，無需特別工具。
      雙卡套裝配方式
      將管子插入接頭底部，手?jǐn)Q緊螺帽用扳手鎖1-1/4圈，3/16” ( 4mm)以下鎖3/4圈，即可緊固。
      耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
      耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
      一個(gè)電氣系統(tǒng)就象是管道系統(tǒng)一樣，電壓好比是液體壓力，電流好比是液體的流速，而電氣絕緣就好比是管壁。絕緣防止電子從導(dǎo)體發(fā)生漏泄――其作用的大小是用絕緣電阻表示的。有效的絕緣電阻系統(tǒng)具有高的電阻值，通常大于幾個(gè)兆歐。差的絕緣系統(tǒng)具有較低的絕緣電阻。為了發(fā)現(xiàn)管道系統(tǒng)中的滲漏，您需要對(duì)其加壓。由于在水壓時(shí)容易發(fā)現(xiàn)滲漏現(xiàn)象，所以您不能關(guān)閉自來水來檢查滲漏。您會(huì)限制可用的自來水，這樣就能夠在發(fā)現(xiàn)大的漏洞時(shí)不至于在周圍噴灑出太多的水。
      耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
      卡套接頭強(qiáng)度大于管道強(qiáng)度，既便管道破裂，卡套接頭不會(huì)脫離、破壞。
      拆卸后可復(fù)用，復(fù)用次數(shù)超過25次。重鎖緊時(shí)一般鎖到原位置后再鎖1/12圈。
      液壓破壞試驗(yàn)裝置
      雙卡套接頭性能
      .完全可替換性，可與進(jìn)口完全互換。. He泄漏檢測(cè)，不大于1 X 108atm/sec.高低溫測(cè)試(-40°C到
      74°C).振動(dòng)試驗(yàn)( 10-20Hz振動(dòng)1000,000次)
      管道要求
      相對(duì)而言，使用卡套接頭對(duì)管道的要求要高此。
      一般要求管子外徑尺寸公差小于士0.1mm
      管口切口正直，表面無明顯劃傷。管口保持一 定的圓度，不能為橢圓。
      管道
      Tube外徑為公稱尺寸，一般冷拉或擠壓.
       Pipe內(nèi)徑為公稱尺寸，鑄造、鍛造、焊接
      卡套接頭只能用于tube
      耐高溫閥門設(shè)備卡套三通接頭公制4mm
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      兩個(gè)常見的傳統(tǒng)方法為1.與色散光的物理掃面組合在一起的單個(gè)元件（或單點(diǎn)）探測(cè)器，以及2.將色散光成像于一個(gè)探測(cè)器陣列上。在種方法中，來自光柵的色散光被聚焦在單個(gè)探測(cè)器上。為了分析多個(gè)波長(zhǎng)上的功率，光柵（通常情況下如此）或者聚焦元件必須適當(dāng)?shù)匦D(zhuǎn)，以便將來自每個(gè)波長(zhǎng)的光調(diào)節(jié)到探測(cè)器上。要執(zhí)行掃描，與探測(cè)器相關(guān)的電子元器件必須與光柵的運(yùn)動(dòng)同步，這樣的話，測(cè)得的功率就與正確的波長(zhǎng)相一致。這就要求機(jī)械旋轉(zhuǎn)系統(tǒng)非常，并因此在體積方面變得十分龐大，而這也限制了這個(gè)方法在實(shí)驗(yàn)室之外的實(shí)用性。
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